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11.11.2008 09:00 Uhr |
Neuere Entwicklungen in der Ellipsometrie. Frank Heyroth |
12.11.2008 12:00 Uhr |
Investigation of free volume in polymers by positron annihilation methods: Positron lifetime spectra. Yu Yang |
17.11.2008 14:00 Uhr |
SiGe BiCMOS technologies for high frequency applications. René Scholz (IHP Frankfurt/Oder) |
24.11.2008 13:00 Uhr |
From efficiency to compatibility: Numerical simulation of thermoelectric devices. Wolfgang Seifert (Institut für Physik) |
26.11.2008 12:00 Uhr |
Positron study of ion cutting process in GaN. Abderrahim Guittoum |
03.12.2008 12:00 Uhr |
Anisotrope Rissbildung und Versetzungsaktivität in Galliumarsenid. Ingmar Ratschinski |
17.12.2008 12:00 Uhr |
Catalytic etching of Si and SiGe. Nadine Geyer |
28.01.2009 12:00 Uhr |
EELS investigations of silicon nanostructures. Martin Schade |
04.02.2009 12:00 Uhr |
GiPS: Gamma-induced positron spectroscopy. Maik Butterling |
18.02.2009 13:00 Uhr |
Testing and evaluation of scintillators. Arnold Krille |
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