Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)

Prinzip

Ausstattung

• Philips ESEM XL 30 FEG (Feldemission)
• Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX/EDAX)
• Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor
• Kryo-Probentisch
• Dehnungseinrichtung

Parameter

• Primärstrahlenergie: 0.2 - 30 keV
• Ortsauflösung:
  • Hochvakuum-Mode (10^-6mbar): 2nm
  • ESEM-Mode (1-10mbar): 2nm

Untersuchungsmethoden

• Rasterelektronenmikroskopie “naturbelassener” Objekte
• Konventionelle Rasterelektronenmikroskopie
• Sekundärelektronenabbildung (Morphologie)
• Rückstreuelektronenabbildung (Topographie- und Ordnungszahlkontrast)
• Elementmapping von bis zu 7 Elementen
• variable Probentemperatur im Bereich von 77-470K
• in-situ Dehnungsmöglichkeit

Anwendungsgebiete

• Isolierende Materialien (Polymere, Keramiken, Gläser, Gesteine, Textilien...) ohne Vorbehandlung
• Biologische und medizinische Präparate unter Wasserdampfatmosphäre
• Sämtliche Proben unter Bedingungen der konventionellen Rasterelektronenmikroskopie

Weiterentwicklung

• Kombination mit Ramanmikroskopie
• In-situ Experimente mit Mikromanipulator

Beispiel: Löwenzahn

• Aufnahmeparameter: WET-Mode, 12 kV, 4,6 Torr

Beispiel: Rosenmehltau

• Aufnahmeparameter: WET-Mode, 10 kV, 3 Torr

Beispiel: Partiell resorbierbarer Knochenzement

• bestehend aus abbaubaren Polymermatrix und 45 Masse-% Hydroxylapatit
• 6 Wochen nach Implantation
• Aufnahmeparameter: Rückstreuelektronenabbildung, 25 kV
• Prof. Dr. B. Sandner, Dr. P. Seidel, FB Chemie; Dr. A. Bernstein, Med. Fakultät

Abbildung der Anlage