Interdisziplinäres Zentrum für Materialwissenschaften
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Martin-Luther-Universität
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abstractH. S. Leipner, C. G. H?bner, T. E. M. Staab, R. Krause-Rehberg
Open volume defects in plastically deformed semiconductors
Mater. Sci. Forum 363-365 (2001), 61-63
 
abstractK. Petters, J. Gebauer, F. Redmann, H. S. Leipner, R. Krause-Rehberg
Formation of vacancy clusters during copper diffusion in semiinsulating GaAs
Mater. Sci. Forum 363-365 (2001), 111-113
 
unfortunately no abstract available H. S. Leipner, D. Lorenz, A. Zeckzer, and P. Grau
Dislocation-related pop-in effect in gallium arsenide
physica status solidi (a) 183, 2 (2001), R4-6
 
abstractH. S. Leipner, C. G. H?bner, T. E. M. Staab, M. Haugk , A. Sieck, R. Krause-Rehberg, T. Frauenheim
Vacancy clusters in plastically deformed semiconductors
J. Phys.: Condens. Matter 12 (2000), 10071-10078
 
abstractR. F. Scholz, P. Werner, U. G?sele, N. Engler, H. S. Leipner
Determination of arsenic diffusion parameters by sulfur indiffusion in gallium arsenide
J. Appl. Phys. 88,12 (2000), 7045-7050
 
abstractM. Haugk, J. Elsner, T. Frauenheim, T. E. M. Staab, C. D. Latham, R. Jones, H. S. Leipner, T. Heine, G. Seifert, M. Sternberg
Structures, energetics and electronic properties of complex III-V semiconductor systems
phys. stat. sol. (b) 217,1 (2000), 473-511
 
abstractH. S. Leipner, C. G. H?bner, P. Grau, R. Krause-Rehberg
Defect investigations in plastically deformed gallium arsenide
Physica B 273-274 (1999), 710-713
 
abstractH. S. Leipner, R. F. Scholz, N. Engler, F. B?rner, P. Werner, U. G?sele
Diffusivity of arsenic interstitials in GaAs studied by sulfur in-diffusion
Physica B 273-274 (1999), 697-700
 
abstractT. E. M. Staab, M. Haugk, A. Sieck, T. Frauenheim, H. S. Leipner
Magic number vacancy aggregates in Si and GaAs - structure and positron lifetime studies
Physica B 273-274 (1999), 501-504
 
abstractT. E. M. Staab, M. Haugk, T. Frauenheim, H. S. Leipner
Magic number vacancy aggregates in GaAs: Structure and positron lifetime studies
Phys. Rev. Lett. 83, 26 (1999), 5519-5522
 
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