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Martin-Luther-Universität
Interdisziplinäres Zentrum für Materialwissenschaften
Nanotechnikum Weinberg
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Vorlesung über 2 SWS im Rahmen des Wahlpflichtfaches 6: Materialphysik

mittwochs 11-13, Nanotechnikum Weinberg, Heinrich-Damerow-Str. 4, Raum 1.016

Priv.-Doz. Dr. Hartmut S. Leipner

Zielgruppe:
  • Studenten höherer Studienjahre (nach Vordiplom) der Studiengänge Physik (wahlobligatorisch für Wahlpflichtfach 6), Werkstoffwissenschaften, Chemie, Mineralogie (Nebenfach Physik)
Inhalt:

Elektronenmikroskopische Untersuchungsmethoden haben ein weites Anwendungsfeld in der Aufklärung der Struktur und der Zusammensetzung verschiedenartigster Materialien in Physik, Biologie und Materialwissenschaften. Die Vorlesung geht von der Darstellung der notwendigen gerätetechnischen Grundlagen aus. Neben der konventionellen Transmissionselektronenmikroskopie wird eine Einführung in verschiedene Sondentechniken und Analysemethoden gegeben. Die Grundlagen der hochauflösenden elektronenmikroskopischen Abbildung und Struktruraufklärung werden vorgestellt.

  1. Wechselwirkung zwischen Elektronen und Materie
  2. Elektronenoptiken
  3. Abbildende Sondentechniken
  4. Transmissionselektronenmikroskopie
  5. Analytische Elektronenmikroskopie

Literatur:
  • Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden. Hrg. O. Brümmer. Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie2 1977.
  • Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik. Hrg. H. Bethge, J. Heydenreich. Berlin: Springer 1982.
  • P. Goodhew, J. Humphreys: Elektronenmikroskopie: Grundlagen und Anwendung. London: McGraw-Hill 1991.
  • D. B. Williams, C. B. Carter: Transmission Electron Microscopy. New York: Plenum 1996.
  • L. Reimer: Scanning Electron Microscopy. Berlin: Springer-Verlag 1985.
  • L. Reimer: Transmission Electron Microscopy. Berlin: Springer-Verlag 1989.
Bemerkungen/Vorkenntnisse:
  • Grundkenntnisse Festkörperphysik sind wünschenswert


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